A-掃描超聲波測厚儀UM-5

A-掃描超聲波測厚儀UM-5

如果你遇到了普通測厚儀不能解決的問題，請選擇我們的UM-5，它能zui大限度的解決各種測厚難題，為您提供高性價(jià)比的解決方案。

技術(shù)參數(shù):

工作原理：使用雙晶探頭的超聲波脈沖/回波法。

測量范圍：0.5 至 508 毫米（0.02 至 20 英寸）；

取決于所用探頭、材料、表面狀況和溫度。

單位和顯示分辨率:毫米-0.01，0.1；英寸-0.001，0.01。

顯示模式：厚度值模式；A 掃描或波形模式；

zui小/zui大值捕獲模式；差值/減薄率模式。

V 路徑修正：自動 V 聲程修正，補(bǔ)償雙晶探頭的非線性度。

示值誤差：±0.05mm （25mm 以下）；

±0.2% H （100mm以下）；

±0.5% H （100mm 以上）。注：H 為被測物厚度

重復(fù)性：±0.05mm。

顯示屏：320×240 點(diǎn)陣，2.4 寸真彩屏。

測量速率：每秒 4 次測量。

材料聲速范圍：500～9999m/s，0.0197～0.3937in/us。

質(zhì)保期：2 年。

工作語言：中文。

電源：兩節(jié) 1.5V   AA 電池。

操作時(shí)間：兩節(jié) 5 號電池，使用時(shí)間大于 36 小時(shí)。

自動關(guān)機(jī)：5 分鐘無操作后自動關(guān)機(jī)。

工作溫度：-10℃～+50℃，有特殊要求可達(dá)-20℃。

尺寸：153mm×76mm×37mm （H× W× D）。

重量：含電池 280g。

標(biāo)準(zhǔn)配置：

測厚儀UM-5,標(biāo)配探頭,儀器箱,兩節(jié) 1.5V 堿性電池,耦合劑,操作手冊。

可選附件：

多種可供選擇的探頭；階梯試塊；耦合劑及高溫耦合劑。

原理講解:

采用脈沖—回波法原理的普通超聲波測厚儀需要滿足以下兩個(gè)條件才能成功測量：

1.*底面回波要高于閘門（閘門電平高度是固定的不可調(diào)節(jié)）。

2.*底面回波前沒有其它雜波高于閘門（否則測出的將是產(chǎn)生雜波處的厚度）。

有時(shí)許多情況無法滿足上述要求，例如近表面高度腐蝕、粗晶材料（如鑄鐵）、鋁材料、小直徑管、超薄板、超厚板、表面粗糙、材料內(nèi)部的不均勻、內(nèi)含缺陷、疊片結(jié)構(gòu)等等，普通超聲波測 厚儀將無能為力。

UM-5可輕松解決上述問題：

1.可以通過調(diào)整增益和閘門高度，使*底面回波高于閘門。

2.可以通過消隱功能使*底面回波前的其它雜波無效。以前的棘手難題迎刃而解。

實(shí)時(shí)彩色 A-掃描（Live Color A-Scan）:

用戶在屏幕上能直接看到彩色超聲信號波型（或A掃描）,這對于需要驗(yàn)證厚度讀數(shù)是否正確的場合是至關(guān)重要的。許多情況會引發(fā)錯(cuò)誤的厚度讀數(shù)甚至無讀數(shù)，根據(jù)波形能輕松找到問題所在，然后根據(jù)波形僅需對增益（GAIN）、消隱（BLANKING）、閘門（GATE）這三個(gè)參數(shù)做適當(dāng)調(diào)整，就可 得到正確的厚度讀數(shù)。

波形的用處：根據(jù)波形驗(yàn)證厚度讀數(shù)，根據(jù)波形找到問題所在，根據(jù)波形尋求解決之道，根據(jù)波形調(diào)整參數(shù)解決問題。

增益調(diào)整（GAIN）：

調(diào)整儀器對回波信號的放大倍數(shù)，允許以 ldB 為單位手動增加或減少。這個(gè)功能對聲衰減材料（比如金屬鑄件）的測量是非常有效的。

消隱功能（BLANKING）：

使紅色消隱條范圍內(nèi)的波形無效，可以略去影響測量的 有害雜波，比如因材料表面粗糙或內(nèi)部不均勻引起的噪聲。

閘門高度可調(diào)（GATE）：

只有回波高于閘門時(shí)，儀器才認(rèn)為接收到了回波，才會有測量值?？梢婇l門高度可調(diào)的重要性，尤其是在應(yīng)對低回波信號的 應(yīng)用中更是如此（比如超薄板、超厚板的測量）。

紅色箭頭：

A-掃描模式有一個(gè)紅色箭頭指示測量點(diǎn)，厚度讀數(shù)就是該點(diǎn)的 橫坐標(biāo)。它可幫助判斷厚度讀數(shù)是否正確，正確測量時(shí)，紅箭頭應(yīng)該指向*底面回波前沿。

范圍（RANGE）：

調(diào)整顯示在屏幕上的波形范圍，視覺上波形被壓縮或展開。如果沒有正確的設(shè)置顯示范圍，回波波形可能出了顯示區(qū)域而看不到，但仍能正確地顯示測量值。

平移（DELAY）：

調(diào)整顯示在屏幕上的波形的起始位置，視覺上波形被水平移動。如果沒有正確的設(shè)置平移，回波波形可能出了顯示區(qū)域而看不到，但仍能正確地顯示測量值。范圍和平移功能可將波形的任何一 部分放大顯示在屏幕上。

整流方式:

可選擇射頻、正半波、負(fù)半波、全波四種整流方式。 射頻：描繪了完整的回波波形；正半波：指去掉回波的負(fù)半波只顯示正半波； 負(fù)半波：指去掉回波的正半波而將負(fù)半波翻轉(zhuǎn)顯示為正；

全波：指回波的正半波和翻轉(zhuǎn)為正的負(fù)半波均顯示。

報(bào)警模式:

可設(shè)置報(bào)警上限和報(bào)警下限。報(bào)警時(shí)波形和厚度值動態(tài)改變顏色。

縮減率測量:

儀器具有差值和縮減率模式。差值模式顯示實(shí)測厚度與預(yù)設(shè)厚度之間的差值變化?？s減率是計(jì)算并顯示材料變薄以后厚度縮減的百分比。典型應(yīng)用是對因彎曲而變薄的金屬材料進(jìn)行測量。

zui小/zui大值模式:

該模式在屏幕上同時(shí)顯示當(dāng)前厚度值、zui小厚度值和zui大厚度值?？裳刂ぜ砻嫱蟿犹筋^，儀器自動找出zui薄值和zui厚值。

多種探頭可選:

儀器內(nèi)置多種探頭的V聲程校正程序，分標(biāo)準(zhǔn)探頭、小徑管探頭、微型探頭、粗晶探頭、高溫探頭，頻率范圍從2至10MHz，晶片尺寸從4至12mm。

一般來說，探頭頻率越高而直徑越小，越適合對較薄或彎曲工件的測量。